X射线测厚仪 X光核辐射传感器 光电二极管加闪烁体 S8559 S8193
荧光X射线测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析 S8559 S8193 耦合CSI闪烁晶体光电二极管也可以应用 核辐射传感器的非接触检测;以及X光射线能量的探测等 闪烁晶体耦合光电二极管用在X光射线测量.用于X射线监视器的探测器 特性 -硅光电二极管和CsI闪烁体耦合 -适合于功率小于100 keV的X射线探测
外形图(单位:mm)具体请参考滨松网上手册:http://www.hamamatsu.com.cn/product/category/10002/10003/10274/index.html
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